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CX40M系列正置金相顯微鏡提供優越的圖像質量和穩固可靠的機械結構；操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地質礦物分析、精密工程測量等領域。
正置金相顯微鏡性能特點
■ 光學系統：無限遠色差校正光學系統（CSIS），像質更好，分辯率更高，觀察更舒適
■ 目鏡及物鏡：高眼點、超寬視野平場目鏡，PL10X/22，視場數達到22mm，提供更加寬闊平坦的觀察空間，并可加裝用于測量的各類測微尺，無限遠平場消色差超長工作距專業金相物鏡，無蓋玻片調計
■ 觀察筒：鉸鏈式雙目/三目/數碼一體化觀察筒，視度可調節，30°傾斜，可進行攝影攝像，對觀察圖像進行采集和保存，配置電腦和專業軟件實現圖像分板
■ 調焦機構：低手位粗微調同軸調焦機構，粗調行程：28mm，微調精度：0.002mm，帶有平臺位置上下調節機構，樣品高度可達：50mm（反射）、30mm（透反射），帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置
■ 照明系統：反射：反射照明器，帶視場光欄和也徑光欄，帶斜照明裝置（可以在觀察細微組織結構時產生浮雕立體的特殊觀察效果），自適應90V-240V寬電壓，單顆3W LED高亮度冷光源
■ 透射：90V-240V寬電壓，6V30W進口鹵素燈，有效保護和延長鹵素燈泡的使用壽命
正置金相顯微鏡技術參數：
正置金相顯微鏡性能特點
■ 光學系統：無限遠色差校正光學系統（CSIS），像質更好，分辯率更高，觀察更舒適
■ 目鏡及物鏡：高眼點、超寬視野平場目鏡，PL10X/22，視場數達到22mm，提供更加寬闊平坦的觀察空間，并可加裝用于測量的各類測微尺，無限遠平場消色差超長工作距專業金相物鏡，無蓋玻片調計
■ 觀察筒：鉸鏈式雙目/三目/數碼一體化觀察筒，視度可調節，30°傾斜，可進行攝影攝像，對觀察圖像進行采集和保存，配置電腦和專業軟件實現圖像分板
■ 調焦機構：低手位粗微調同軸調焦機構，粗調行程：28mm，微調精度：0.002mm，帶有平臺位置上下調節機構，樣品高度可達：50mm（反射）、30mm（透反射），帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置
■ 照明系統：反射：反射照明器，帶視場光欄和也徑光欄，帶斜照明裝置（可以在觀察細微組織結構時產生浮雕立體的特殊觀察效果），自適應90V-240V寬電壓，單顆3W LED高亮度冷光源
■ 透射：90V-240V寬電壓，6V30W進口鹵素燈，有效保護和延長鹵素燈泡的使用壽命
正置金相顯微鏡技術參數：
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型 號
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CX40M
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光學系統
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無限遠色差校正光學系統
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觀 察 筒
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鉸鏈式雙目/三目，30°傾斜，瞳距調節范圍：54-76mm；分光比：雙目100%，雙目/三目80%/20%
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目 鏡
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標配：高眼點、超寬視野平場目鏡，PL10X/22，視場數22mm
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轉 換 器
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內定位內傾式五孔轉換器
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物 鏡
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無限遠長工作距平場消色差金相物鏡5X LMPL5X /0.15 WD10.8mm
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無限遠長工作距平場消色差金相物鏡10X LMPL10X/0.30 WD10mm
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無限遠長工作距平場消色差金相物鏡20X LMPL20X/0.45 WD4mm
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無限遠長工作距平場半復消色差金相物鏡50X LMPLFL50X/0.55 WD7.8mm
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調焦機構
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低手位粗調同軸調焦機構，粗調行程：28mm，微調精度：0.002mm
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帶有平臺位置上下調節機構，樣品高度可達：50mm（反射）
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帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置
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載 物 臺
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雙層機械載物臺，低手位同軸調節，尺寸：175X145mm，行程76X42mm
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反射照明系統
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反射照明器（帶視場光欄和也徑光欄，帶斜照明裝置），自適應寬電壓90-240V，單顆3W LED照明
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偏光附件
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起偏鏡插板、固定式檢偏鏡插板，可360°旋轉式檢偏鏡插板
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CTV接口
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1X（標配）、1/2X（選配）
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附 件
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載物臺板（玻璃、金屬），干涉濾色片（藍、綠、紅、白），壓平機
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